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產品詳細頁

HPS2561四探針電阻率測試儀

簡要描述:HPS2561四探針電阻率測試儀
測試參數:電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀,可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2020-03-30
  • 訪  問  量:1107

產品介紹

HPS2561四探針電阻率測試儀

測試參數:電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

    四探針電阻率測試儀,可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量。

HPS2561四探針電阻率測試儀

性能特點

v 高電阻精度:0.05%

v 高達30通道/

v 每個通道獨立設定上下限

v 具有低阻測試模式,有效保護被測件

v 10檔量程,手動和自動模式

v 可根據實際需要任意選擇總通道數提高測量效率

v 中英文可選操作界面

v 完備的通訊接口可以與PC進行數據通訊及對儀器的遠程控制

 

 

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